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现象:同一测试点反复测试失败,更换 PCB 后仍在相同位置报错。一测就报 N 个开路点,有的板子重测又好了。

常见根因(按概率和可复现度排序)

板面问题

  • 测试点太小/被阻焊盖边、边缘不圆整
  • 表面处理易氧化(尤其 OSP 放久了)、助焊剂/灰尘污染
  • 过孔当测试点未塞油,针头“掉孔”接触不稳
  • 板子翘曲/扭曲,压合后中部“浮针”

治具/探针问题

  • 探针磨损/弹簧疲劳/行程不够,接触力不足
  • 针头形状与表面不匹配(OSP 用圆锥针→刺不破;金面用爪针→滑刮)
  • 对位精度差(定位孔、导向柱磨损,针板孔有毛刺,真空泄漏)
  • 支撑柱/托块布局不合理(大 BGA、边缘薄区没有托。

测试方法/电气设置

  • 接触检查(Contact Check)阈值不合理、激励/守卫设置偏小导致“假开路”
  • 量测走线/线缆接触电阻大、夹具串扰/漏电

环境与流程

清洁/更换周期没管控,针头与板面都“越测越脏”

快速定位(10 分钟内的排查路径)

重测对比:同一块板换治具/同治具换板 → 判断“治具侧”还是“板侧”。

接触地图:开 Contact Check 或导通扫描,只测接触不跑功能,看失败点是否集中在区域(多为翘曲/支撑)还是集中在材质/表面(多为 OSP/污染/针头形状)。

机械对位/平整度

  • 看定位销是否松,导向柱是否有磨痕;
  • 压敏纸/压力膜或在板背涂少量记号笔压一次,查看接触印迹是否均匀;
  • 目测/塞尺查中部是否浮起。

针头状态:随机抽 5–10 枚故障点位的针头,放大镜看是否卷边、变钝、沾污,轻压手感是否顺滑回弹。

板面状态:观察 TP 是否被绿油包边、是否有助焊剂/氧化斑,过孔点位是否掉孔。

电气设定:仅对失败点加大激励电流/更换守卫方式,若通过→多为接触边界问题。

立刻可执行的“救火措施”(当班就能落地)

避免将测试点设计在高元件(如连接器、电感、BGA 周边的立式电容)下方或阴影区,防止探针被元件阻挡。

清洁

  • 针头用无纤维酒精棉/橡皮清洁条快速擦拭一轮;
  • 可疑板面酒精/离子水点清(避开高风险器件),重测。

更换/调整探针

  • 对高失败率点位,换新针或换成四爪/八爪(针对 OSP/氧化),金面光滑易滑移的换刃形;
  • 将治具压合行程调到针满行程的 2/3–3/4,保证接触力。

增强支撑

  • 临时加磁吸/3D 打印/胶垫托块在中部与大 BGA 下方;
  • 对高件区域用台阶压板或加弹性压条。

对位校正

  • 检查定位销是否松动,清洁导向柱;
  • 真空治具做泄漏检查(听音/贴胶带法),保证吸力充足。

程序策略

适度提高接触检查的测试电流/电压或改变守卫接法,降低“假开路”。

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